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儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。 本儀器廣泛應(yīng)用于太陽能單晶(多晶)廠家為硅材料的分選測試,半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
儀器以大規(guī)模集成電路為核心件,采用平面輕觸式開關(guān)控制,及各種作狀態(tài)LED示.應(yīng)用微計算機(jī),利用GSZ-HQ-710E型測量數(shù)據(jù)處理器,使得測量讀數(shù)更加直觀、快速,并能實現(xiàn)晶片厚度自行修正,打印出預(yù)置和測量、計算數(shù)據(jù)。整套儀器體積小、耗低、測量度、測試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。
四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的,用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。
BTS-CS-1A-8動態(tài)應(yīng)變儀采用了的應(yīng)變測試電路及口性能電子器件,成為我代動態(tài)性能應(yīng)變儀,并跨入了際水平的行列。本儀器配接不型的應(yīng)變片及應(yīng)變片式傳感器,可以實現(xiàn)應(yīng)力、拉壓力、速度、加速度、位移、扭矩等多種物理量的測量。點是:自動平衡,通道多,重量輕,體積小,便于攜帶和搬運(yùn)。
BTS-CM-1J-32型數(shù)字靜態(tài)應(yīng)變儀是我公司研制的代靜態(tài)應(yīng)變儀,標(biāo)已達(dá)到內(nèi)現(xiàn)階段靜態(tài)應(yīng)變測量的Z水平。它主要基于單片機(jī)的應(yīng)用,數(shù)字智能化,測量能豐富,采用電子開關(guān),避免了因機(jī)械開關(guān)和繼電器氧化、老化后接觸不良而成的測量誤差。
數(shù)顯碳化深度測量表采用度容柵位移傳感器,用混凝土表面的碳化深度測量,此表的Z大優(yōu)點是碳化深度直接數(shù)字顯示,度,并可手動保持,儀表采用A76型紐扣堿性電池,耗低,待機(jī)時間長。