型號(hào)：GSZ-RTS-8

四探針測(cè)試儀測(cè)試儀

描述：四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。

廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間
2024-04-12
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四探針測(cè)試儀測(cè)試儀型號(hào)：GSZ-RTS-8

四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的用儀器。
    儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
    儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、度、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點(diǎn)。
    本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。

產(chǎn)品名稱：錯(cuò)覺(jué)試驗(yàn)儀
產(chǎn)品型號(hào)：HAD-BD-II-113

錯(cuò)覺(jué)試驗(yàn)儀型號(hào)；HAD-BD-II-113

HAD-BD－Ⅱ－113型錯(cuò)覺(jué)實(shí)驗(yàn)儀主要是證實(shí)繆勒－萊伊爾視錯(cuò)覺(jué)現(xiàn)象的存在和研究錯(cuò)覺(jué)量大小。

主要標(biāo)：

1. 線段總長(zhǎng)度：200mm，箭頭線與箭尾線長(zhǎng)度可調(diào)，可調(diào)范圍±20mm

2. 錯(cuò)覺(jué)量長(zhǎng)度讀數(shù)誤差：＜0.1mm，位于儀器的背面

3. 箭羽長(zhǎng)度：25mm

4. 箭羽線夾角：30°、45°、60°

5. 選用種夾角箭羽線時(shí)的檔板：2塊

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