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儀器預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)A光源及D65光源文件，并可根據(jù)用戶(hù)需求，由用戶(hù)意設(shè)定存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)光源。儀器可根據(jù)不同參考光源自動(dòng)修正探測(cè)器的光譜參數(shù)誤差，達(dá)到屏幕的亮度、屏幕的亮度不均勻性、色品坐標(biāo)和色溫的測(cè)量。其測(cè)量度達(dá)到際水平。
LED光強(qiáng)分布測(cè)試儀用于LED發(fā)光強(qiáng)度曲線(xiàn)分布測(cè)量。可為L(zhǎng)ED提供各種電參數(shù)，該儀器具有計(jì)算機(jī)控制電調(diào)節(jié)，可自動(dòng)快速測(cè)量等點(diǎn)。
GSZ-CV-2000型電容電壓性測(cè)試儀是測(cè)試頻率為1MHz的智能化數(shù)字的電容測(cè)試儀器，用于測(cè)試半導(dǎo)體器件PN結(jié)的勢(shì)壘電容在不同偏壓下的電容量，也可測(cè)試其它電容。
該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測(cè)試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的用儀器。 儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、二探針探頭、計(jì)算機(jī)等分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
方型四探針探頭是種門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的方型四探針測(cè)試探頭，用于測(cè)量小樣品的四探針探頭，可用于般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。
方塊電阻測(cè)試儀是手持式方塊電阻測(cè)試儀,門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測(cè)量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質(zhì)的薄層電阻。
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