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描述：SYB-WGG2型光學(xué)溫計時非接觸式測量溫的儀表，當(dāng)被測量的溫度于熱電偶所能使用的范圍，以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場所，用光學(xué)溫計般可以滿足這個要求。
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2016-11-23訪問量
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詳細介紹
| 品牌 | 恒奧德 |
|---|
| 光學(xué)溫計型號:SYB-WGG2-201 | ||
| SYB-WGG2型光學(xué)溫計時非接觸式測量溫的儀表，當(dāng)被測量的溫度于熱電偶所能使用的范圍，以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場所，用光學(xué)溫計般可以滿足這個要求。 它廣泛地用來測量冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃熔窯、鍛打、熱處理等溫度，是冶煉、化和機械等業(yè)過程中*的溫度測量儀表之。 主要標(biāo) SYB-WGG2型光學(xué)溫計能在環(huán)境溫度10～50℃，相對濕度不大于85%的情況下連續(xù)作。 物鏡與目標(biāo)之間的距離不小于700毫米。 標(biāo)尺長度不小于90毫米。 凈重約1.8公斤。 型號規(guī)格 測量范圍℃： 700～1500 允許基本誤差℃:（800～＜900）±33,（900～1500）±22,800℃以下僅作參考 測量范圍℃1200～2000允許基本誤差℃:±30 | 光學(xué)溫計SYB-WGG2-201 |
2.
 | 產(chǎn)品名稱：方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀 產(chǎn)品型號：HAD-WSP-51 |
方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀 型號：HAD-WSP-51
HAD-WSP-51數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。
本測試儀可贈設(shè)電池供電，適合手持式變動場合操作！
儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用旋鈕輸入；具有零位、滿度自校能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用耐磨碳化鎢探針制成，故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
三、四探針測試儀基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電 阻： 1.0×10-2 ～ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10 Ω
電 阻 率： 1.0×10-3～ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ～ 0.1 Ω-cm
方塊電阻： 1.0×10-3 ～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ～ 0.1×10 Ω/□
2. 可測半導(dǎo)體材料尺寸（手持式）
直 徑： 測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
長（或）度： 測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程劃分及誤差等
量程 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 |
kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | |||
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | |||
4） 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5） 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重：≤0.5kg
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