1:片劑硬度檢測(cè)儀/片劑硬度計(jì)/片劑直徑測(cè)試儀 型號(hào):HAD-YD2

片劑硬度測(cè)試儀/是用于測(cè)量片劑的壓碎硬度。
適用標(biāo)準(zhǔn)：JB/T20104-2007
片劑硬度檢測(cè)儀標(biāo):
△ 硬度測(cè)試范圍：2-200N 0.2KG-20KG
△ 分辨率：0.1N 0.01Kg
△ 硬度測(cè)量度：量程±0.5%
△ 片劑測(cè)試直徑：2-40mm
△ 重復(fù)測(cè)量誤差：±1%
△ 每組測(cè)試片數(shù)：≤100片
△ 整機(jī)率：40W
△ 外形尺寸：長(zhǎng)*寬* 400mm*240mm*140mm
主要點(diǎn):
① 度壓力傳感器，保證測(cè)試的度和重現(xiàn)性。
② 顯示選用清晰度液晶顯示屏，顯示內(nèi)容豐富，用戶可根據(jù)屏幕提示智能化操作，每個(gè)操作過(guò)程均給出漢字提示和量化標(biāo)。
③ 測(cè)量方式可選: 手動(dòng)單片/自動(dòng)連續(xù) 。
④ 系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)壓片、自動(dòng)顯示、自動(dòng)鎖存、自動(dòng)復(fù)位、自動(dòng)循環(huán)測(cè)試、自動(dòng)線性誤差修正、自動(dòng)故障診斷。
⑤ 對(duì)自動(dòng)連續(xù)試驗(yàn)，提供查詢往次試驗(yàn)結(jié)果的能，為數(shù)據(jù)記錄提供了便利。
⑥ 自動(dòng)計(jì)算退片行程，壓縮您的測(cè)試占空時(shí)間。
⑦ 度量單位鍵轉(zhuǎn)換（牛頓-公斤）。

說(shuō)明書 片劑硬度測(cè)試儀用戶手冊(cè).doc

2:片劑硬度儀/片劑硬度測(cè)試儀 型號(hào):HAD-YD1

片劑硬度儀是用于測(cè)量片劑的壓碎硬度。
適用標(biāo)準(zhǔn)：JB/T20104-2007
標(biāo):
△ 硬度測(cè)試范圍：2-200N 0.2KG-20KG
△ 分辨率：0.1N 0.01Kg
△ 硬度測(cè)量度：量程±0.5%
△ 片劑測(cè)試直徑：2-20mm
△ 整機(jī)率：10W
△ 外形尺寸：長(zhǎng)*寬*（280mm *180mm *110mm）
主要點(diǎn):
① 度壓力傳感器，保證測(cè)試的度和重現(xiàn)性。
② 手動(dòng)裝片、手動(dòng)壓片，操作簡(jiǎn)便。
③ 系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)顯示、自動(dòng)鎖存、自動(dòng)復(fù)位、自動(dòng)循環(huán)測(cè)試、自動(dòng)線性誤差修正、自動(dòng)故障診斷。
④ 提供單位轉(zhuǎn)換能，試驗(yàn)前后均可實(shí)現(xiàn)換算。
⑤ 用戶可方便的使用標(biāo)準(zhǔn)砝碼定期對(duì)儀器行測(cè)量度校正

3:無(wú)線壓電互感器變比測(cè)試儀 型號(hào):HAD-9500

產(chǎn)品點(diǎn)

測(cè)量：低壓電互感器二次回路的電、變比、比差、角差、相別、性、漏電在線測(cè)試監(jiān)控；變壓器兩側(cè)電大小、變比在線測(cè)試監(jiān)控；空電、漏電測(cè)試；二次回路核相、相序判斷能。

無(wú)線壓變比測(cè)試儀突破傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)，為測(cè)量低壓二次回路的電、變比、漏電而心制的，采用CT及掩膜數(shù)字集成，由用壓檢測(cè)儀、低壓電鉗、主機(jī)、壓緣桿、監(jiān)控軟件等組成，其無(wú)線傳送測(cè)試數(shù)據(jù)能穿透多層樓房障礙，直線傳輸距離達(dá)300米。若不使用緣桿，還可以當(dāng)作度低壓鉗形電表、漏電表使用，能準(zhǔn)確測(cè)出0.01mA～1000A的電或漏電。

5:手持式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀 型號(hào):HAD-3

概述
HAD-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由HAD-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校能；手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配用探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭點(diǎn)與選型參考》入
儀器具有測(cè)量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率
電 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方塊電阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
直 徑：HADT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180HADHAD×180HADHAD。
長(zhǎng)()度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100HADHAD。.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.

量程劃分及誤差等

量程（Ω-cm/□）

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

電阻測(cè)試范圍

0.010～2.200

2.000～22.00

20.00～220.0

0.200～2.200k

2.000～50.00k

電阻率/方阻

0.010/0.050～2.200

2.000～22.00

20.00～220.0

0.200～2.200k

2.000～20.00k/100.0k

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈 重：≤0.3kg

溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對(duì)應(yīng)的