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1、L:采用3.9〞彩色透液晶屏,中文菜單提示操作,以及ARM和16位A/D芯片。 2、操作方便:可現(xiàn)場手持、懸掛、支撐、卡入多種方式操作,所有能鍵直列面板,可實現(xiàn)能鍵切換。 3、安性:電壓接線配防護套,塑封鱷魚夾,無金屬裸露,測試安。 4、低耗:內(nèi)置鋰電池供電或外直電源供電,整機耗﹤5VA。
該校驗裝置為表源體式,其本身具有定頻、定相源性,因而不需配置何電壓、電、率電能標準,即可對各類示儀表、單相、三相電能表以及變送器行手動或自動檢定,并可將檢定結(jié)果打印出來。另外還配有標準 RS232 接口,可在計算機上直接操作校驗檢定過程。
GSZ-CV-2000型電容電壓性測試儀是測試頻率為1MHz的智能化數(shù)字的電容測試儀器,用于測試半導(dǎo)體器件PN結(jié)的勢壘電容在不同偏壓下的電容量,也可測試其它電容。
該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的,用于測試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的用儀器。 儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。
方型四探針探頭是種門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭,用于測量小樣品的四探針探頭,可用于般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。
方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質(zhì)的薄層電阻。